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X-Strata920高效的X射线镀层测厚仪

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X-Strata920高效的X射线镀层测厚仪


-Strata920是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

 

The X-Strata920可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。

 

主要特点包括:;

§ 成本低、快速、非破坏的EDXRF分析

§ 可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线

§ 的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从钛(原子序数22号)到铀(92号)各元素

测厚行业20年知识和经验的积淀

 

使用广受推崇的能量色散X射线荧光(EDXRF)技术, X-Strata920可实现如下测试要求:

§ 符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 

§ 符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层

§ 至多同时分析25种元素



 

日立仪器基于WindowsTM 的软件SmartLinkâ,直观、简单,使用户的生产效率化:

 

界面主要部分:

§ A) 待测样品放大的图像

§ B) 清晰的测试结果显示:可选择标准或大字符

§ C) X射线波谱,显示样品中主要元素

§ D) Stop/Go 一键测量


SmartLink® 基本参数法(FP)软件

 


 

 

 

日立仪器基于WindowsTMSmartLinkâ FP软件:

 

§ 基本参数法可不需或只需很少数量的标样。

§ 仪器预装了超过800种应用参数/方法,便于建立测试程序和日常操作。 

§ 直观的步骤,可在几分钟内建立新方法。

§ 如有结构匹配的标样,基于FP方法的校正程序可提供可信的定量分析结果。

§ 如没有结构匹配的标样,可建立一个纯理论的校正程序。

§ 如有全套标样,“经验式的”感兴趣区域(ROI)校正方法可以实现的准确度。


SmartLink®基本参数法分析

 

 


 

基本参数法可以快速、准确第测量镀层厚度和材料成分分析:

 

§ 基于FP的校准覆盖广泛的厚度范围包括复杂的多层应用。

§ 基于FP的校准液覆盖广泛的材料。这对包含大量非常规任务的工作特别有用。

§ 当有限标样时,基于FP的校准程序提供了可靠的定量分析的手段。

§ 当没有标样时,可建立纯理论的校准程序进行半定量分析。


数据稳定性:波谱校准标样和自动热补偿

 

 

 

 

§ 只需对日立仪器提供的波谱校准(Spec-Cal)标样进行简单、快速的测量,即可检测仪器的性能,即灵敏度和检测器的分辨率。测量结束时,仪器自动完成校准,保证仪器长期稳定性。

§ 自动热补偿功能持续测量仪器的温度并做修正,保证短期和长期的数据稳定性。 

 


定性分析 – 波谱扫描(计数)

 

 

X-Strata920高效的X射线镀层测厚仪

 

§ 快速、简单的定性分析

§ 清晰、简单、可视的元素标识和验证

§ 清晰、图形化显示出选定X射线能量区域(keV或通道)在一次测量中录得的信号计数(强度)。

§ 波谱和感兴趣区域强度在测量时实时显示。

§ 用户可以将感兴趣区域的波谱强度导出、打印、保存、恢复,以及将波谱保存成文本格式以转换至数据表作具体研究。


报告生成软件(简洁版) 

 

 

X-Strata920高效的X射线镀层测厚仪

 

 

§ 可根据客户的具体要求打印定制报告,如:用户可使用预置模板或自制报告模板,并一键实现报告打印。

 




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