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博曼 XRF镀层测厚仪 G系列
美国博曼(Bowman)拥有超过30年的行业经验,是全球镀层测厚仪及元素分析仪器的领军品牌。美国博曼 G系列是上罩式机型,与其他机型的区别是该型号的X射线照射方式采用由上往下的设计,基础但全面的配置可以满足镀层产品的一般测量。美国博曼 G系列是性价比的一款台式测厚仪。
苏州纳光电子科技有限公司产品涵盖BX53金相显微镜、芯片金线测量显微镜、3D显微镜、工业CT等专业检测设备、XRF镀层测厚仪,X-ray检查机,超声波扫描SAT
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