XTH225

XT H 225系列

广泛应用于小型铸件，塑料零件检测，材料研究等领域的型CT 

   在零件内部组装的信息获取与测定，质量管理，故障分析，材料研究等应用中不可缺少。装备了强力的225kV微焦点X射线源的XTH225系列，带给我们高清晰度的X光图像以及CT图像

主要特点

高速旋转靶（选配件）可以使X射线束增幅达到五倍，实现了在同一扫描时间内CT数据精度更高，CT数据获取也更加快速。

• 225kV的强力射线管（选配旋转靶）
• 实时的X射线可视化，迅速的CT 数据重构
• 完全可编程化的5轴操作样品台
• 可自定义宏让检测工作流程自动化
• 针对多用途设计的3种不同大小的铅房防护外壳（标准，ST，LC）

引进功能

• 将灵活性整合到一个系统里:X射线快速可视化检测，CT重构精密解析
• 快速获取高品质图像
• 人机交互式操作杆导航界面使用快速直观
• 高清晰度数字图像与图像处理
• 不需要特别外加防护的完备安全系统
• 通用于业界标准的后处理应用格式

用途 

 CAD数据实物比对分析                     三维坐标测量

方解石内部金脉分析                  气缸的喷油嘴分析

泡沫海绵的CT重构                     蜗牛以及内部幼体化石

• 精密的塑料零件，小型铸件，复杂的机械装置、CAD实物比对等等的评价与测定
• 详细的故障原因分析
• 材料学研究与生物学的构造分析
• 模型的数据转换与保存
• 组装装配的问题分析 

XT H 225 X射线和CT检测系统，可供工业应用
工业零部件内外全检 

 
   外部零件和总成特征的详细测量对于质量控制、失效分析和材料研究而言通常是非常重要的。XT H系统可提供强大的X射线源，超大的检测体积和较高的X射线和CT成像分辨率。

XT H 系统可采用225kV电源，可选用旋转目标，适合于各种应用，包括小铸件检测、塑料件及材料研究。

优点

• 可灵活地整合在单个系统中：X射线可用于快速目视检测，CT可用于深入分析快速数据采集和高质量图像；

• 可利用交互式操纵杆导航功能进行快速操作 高分辨率数字成像和处理；

• 嵌入式安全装置可使操作人员安全地操作该系统，无需任何特殊的预防措施或安全警示标志；

• 可与行业标准后处理应用紧密集成

25-225kV micro-focus source with 3um focal spot size

25-225kV 微焦点源，焦斑大小为3μm 

Low cost maintenance open tube technology
低成本维护开管技术 
5-axis fully programmable manipulator
五轴完全可编程操纵器

Choice of high resolution digital detector
精选高分辨率数字探测器

Dual display for combined measurement and real-time analysis
双显示，用于组合测量和实时分析 
Intuitive joystick navigation drives real-time X-ray image generation
直观的操纵杆导航可指导生成实时X射线图像

 Measurement volume of 25X60cm
测量体积 25X60cm

Safety as a design criterion
安全装置，可作为设计标准

Compact design and low weight facilitates installation
结构紧凑设计，轻质设施安装 
Ergonomic loading of sample
符合人体工学的样品装载

应用
  评估和测量精密塑料件和小铸件、复杂机构、内部零件、部件与CAD比较等
故障检测和失效分析
装配问题的故障诊断排除
先进材料研究和生物结构的分析
模型的数字化归档
主要特征概述

X射线源

  可使用25kV至225 kV电压，XT H 225系统可用于一般用途，例如塑料、PCB、轻合金、小组件和有机样本或生物样本，也可用于特殊用途，例如重型铸件、焊接件和高密度合金。

目标

  微焦斑可产生非常高的分辨率，并建议将其作为标准目标。棒阳极是中空样品单层壁检测的理想选择，例如管焊接。

旋转目标源 

  带有旋转目标的X射线源可将X射线通量提高5倍，使客户能获得更快的CT数据采集或在相同的时间跨度内获得更高的CT数据精度。

五轴样品操纵器

  XT H 225系统有三个线性轴和两个旋转轴，可从任意角度观察样品。10kg操纵器可夹住大多数样品重量，以精度进行操纵。操纵器通常用变速操纵杆进行控制。操纵器也可通过安装在机架上的工业PC机采用编程的方式进行控制。

X射线平板探测器

  可广泛选择各种平板，使其更好地匹配物体尺寸和X射线能量，这提供了样品尺寸、视场和放大倍数要求的选择。

高放大倍数 

  当样品向X射线源移动时，几何放大倍数将连续增加，从大约1X（紧挨着增强器窗口）增大到160X（碰触到X射线源）。

图像处理

   一般NDT应用通常需要一些标准功能，例如对比度加强，图像集成和背景减除。对于更加重要的分析，需要使用一些特殊功能，例如自动芯片粘接空洞和引线弯曲计算、图形显示和色彩增强。

可靠性

  连续泵浦全金属X射线管消除了密封玻璃管故障成本高和更换时间长等问题。客户维护成本低，通常只需更换灯丝，只需花费15分钟的更换时间。

系统技术指标 

  5 µm 焦斑反射目标X射线源，25～225 kV，0～2000 µA（非连续）60或225W。
10kg容量五轴完全可编程操纵器。
扫描范围250 x 330mm。
几何放大倍数：160x.
系统放大倍数：400x。
特征识别分辨率：1µm。
外机柜尺寸：2030mm L，925mm D，2000mm H。
全套系统控制和图像处理软件。