欢迎进入苏州纳光电子科技有限公司网站!
新闻资讯

处理芯片金线测量显微镜压印出现异常辨别2021-03-12
处理芯片金线测量显微镜压印出现异常辨别
BX53金相显微镜按试验力的大小归类2021-03-11
BX53金相显微镜按试验力的大小归类
三维显微镜求微分干预照明灯具(DIC):2021-03-10
求微分干预相映显微镜术,基本原理是将来源于匀称的光源的光线瓦解,一束光作为参照,另一束光则由样品更改
处理芯片金线测量显微镜手工制作磨光2021-03-06
处理芯片金线测量显微镜手工制作磨光
BX53金相显微镜硬度试验的归类2021-03-05
BX53金相显微镜硬度试验的归类自1722年雷奥姆尔(Reaumvr)先运用了矿物质对金属材料开展刻画的原始硬度试验至今,大家明确提出过一百多种测量金属材料硬度的方式,常见金属材料硬度试验方式的归类以下。1、按荷载功效的方法归类:(1)●静态数据压印硬度试验(2)●动态性压印硬度试验(3)●刮痕硬度